晶圆传送机
KINO LOADER
超景深三维视频显微镜
DVM6
LEICA DM4 M
Leica DM6 M
Leica DM8000M
Leica DM12000 M
LEICA DMI 8M（智能型）
LEICA M205 C
LEICA M165 C
LEICA M125
LEICA M80
LEICA M50
LEICA DFC295/DFC290 HD
LEICA DM1750M
LEICA 倒置金相显微镜DMILM（检验级）
LEICA DM2700M
LEICA DMI3000M（科研级）
LEICA Z16 APO A 宏观显微镜
LEICA A60H
LEICA S6
LEICA S8 APO
LEICA EZ4D
LEICA S4E
LEICA S6D S6E
LEICA DCM8
LEICA DMS300
Leica DMS1000 数字显微镜系统
LEICA DM2700P偏光显微镜
LEICA Z6 APO
Leica DFC450 / 450C
Leica MC120 / MC170 HD
Lecia IC80 HD体视用摄像头
Leica数码摄像头DFC495
Leica数码摄像头 DFC425/DFC425C
Leica数码摄像头DFC400
Leica DM LP
Lecia DM2500P
Lecia DM4500P
Lecia DM750P
Leica Cleanliness Expert
Leica LAS Reticule
0.25微米 高精度扫描台 LMT260
Leica Phase Expert
Leica Cast Iron Expert
Leica LAS Live Measurement
Leica Grain Expert
Leica Steel Expert
Leica Dendrite Expert
Leica LAS Live Image Builder
Leica Decarburisation Expert
Leica Steel Expert 2.0
Leica Layer Thickness Expert
Leica LAS Interactive Measurement
Leica LAS EZ
Leica Application Suite
3D超景深显微镜
3D microscope
CMM三坐标测量仪自动数据采集
电子数显高度计自动数据采集
电子数显千分尺自动数据采集
电子数显卡尺自动数据采集
影像投影仪自动数据采集
影像测量仪自动数据采集
工具显微镜自动数据采集
ZEISS O-INSPECT 322 蔡司复合式测量机
O-INSPECT 322
ZEISS O-INSPECT 442 蔡司复合式测量机
O-INSPECT 442
尼康MM-800测量显微镜
尼康MM-400测量显微镜
尼康VMZ-R3020影像测量仪
尼康V-12B测量投影仪
尼康VMZ-R4540影像测量仪
尼康VMZ-R6555影像测量仪
尼康VMA-6555影像测量仪
尼康VMA-4540影像测量仪
尼康VMA-2520影像测量仪
Dorsey 32SS 卧式投影机
Dorsey 32SS
Dorsey 16VS立式投影仪
Dorsey 16VS
Dorsey 16H卧式投影仪
Dorsey 16H卧式投影仪
Dorsey 14HE卧式投影机
Dorsey 24P卧式投影机
Dorsey 32P 卧式投影机
Dorsey 32P
Dorsey 24LD 立式投影机
Dorsey 24LD
pluneox 3d共聚焦轮廓仪
pluneox 3d共聚焦轮廓仪
尼康MM-200测量显微镜
尼康V-20B测量投影仪
尼康V-24B测量投影仪
尼康MF-1001数显高度计
尼康MF-501数显高度计
尼康VMR-1515影像测量仪
尼康VMR选配软件
尼康VMR-10080影像测量仪
尼康VMR-12070影像测量仪
NIKON VMR-H3030高精度影像测量仪
Nikon XTV160
6B/6D自准直仪
OGP ZIP250
OGP ZIP Advance 250
OGP ZIP300
OGP ZIP 450
OGP Flash CNC200
OGP CNC 250
OGP Flash CNC300
OGP CNC 500
OGP CNC 1500/1550/1552
OGP MVP 200/ 250/ 300
OGP MVP 400
PLC设备自动数据采集
检测仪器计量管理软件
客户投诉管理(8D管理)
FastLine™ P300™
Gen6™
Gen6™
FACTS2™
FACTS2™
Vcsel芯片隐裂（cracks）、InGaAs瑕疵红外无损检测
法拉第激光隔离器胶合偏振片无损检验-良品
法拉第激光隔离器胶合偏振片无损检验-不良品
die chip ， IC 失效分析1
die chip ， IC 失效分析2
Wafer正反面定位标记重合误差无损测量
硅基半导体Wafer、碲化镉CdTe、碲镉汞HgCdTe衬底 缺陷无损红外检测1
硅基半导体Wafer、碲化镉CdTe、碲镉汞HgCdTe衬底 缺陷无损红外检测2
太阳能电池组件综合缺陷红外检测1
太阳能电池组件综合缺陷红外检测2
Qlmaging 的全新 sCMOS 数码相机
MINIIE工业工程软件
IEMS动作分析软件
MINI8D客户投诉管理软件
MINITESTER仪器计量管理软件
电子万能试验机
TME泄漏测试仪
液压万能材料试验机
盐雾试验箱
轮廓和粗糙度测量仪
轮廓测量仪
形状测量仪
冷热冲击试验箱—TSA 系列
绝缘电阻劣化（离子迁移）评估系统
通电阻评估系统
冷热冲击试验箱—STSA系列
压加速老化试验箱
生产管理
质量管理
物料管理
设备维护
OGP Vantage 250
OGP Vantage 300
OGP Vantage 450
OGP Vantage 650
VIEW Benchmark 250
VIEW Pinnacle 250
VIEW MicroLine 300
VIEW Benchmark 450
VIEW Summit 450/600
OGP Starlite系列
OGP SNAP
