LEICA 徕卡显微镜 NIKON显微镜 清洁度 工具显微镜 金相显微镜 视频显微镜
展开
  • VIEW Pinnacle 250 VIEW Pinnacle 250 高产出、高精度尺寸测量系统 EW Pinnacle 250影像测量仪有着非凡的精度和生产率,优异的MTBF性能,以及在同类型自动测量系统中最低的购置成本。其独特的可编程多色环形灯(PRL)选项运用红、绿、蓝、白LED照明,可轻松应对最苛刻的应用。最新型的直性运动控制技术造就了运行速度最快、最为可靠的免维护平台,满足从无尘室到工厂车间的生产环境中,大容量、高性能的操作。 可选的软件包增强系统的通用性: CAD 导入(DXF/IGES) 软件 形状拟合和分析软件 离线编程软件 QC-Calc™ Statistical Process Control (SPC) —实时分析和报告软件 Elements™ CAD To Measure测量软件 相关技术文档下载
     

    特征

    测量范围:250 x 150 x 100 mm

    - 25公斤承载力

    亚微米的光栅尺分辨率

    - X-Y无阻力线性马达驱动,平台速度400 mm/

    - ZDC伺服回转马达驱动,100 mm/

    误差映射:在XY平面非线性二维纠错

    双重放大光学系统,固定镜头,内部放大1-4

    可编程LED平台背光及同轴表面光照明

    可编程多色环形灯(PRL)选项

    - TTL激光选项,具有自动聚焦和扫描功能

    - SpectraProbeTM  高分辨率彩色传感器选项

    先进的图像处理性能,快速、精确、稳健

    双通道,数字式,1.4兆像素的单色相机; 4:1的比例

    次像素精度: 1/10 - 1/50 pixel

    独立的Anthro Cart Operator工作站

    强大的测量软件和数据分析工具可供选择

    平均无故障工作时间 MTBF ≥ 8,000 小时


    Benchmark的应用范围包括:
    半导体/电子

     BGA, μBGA, CSP, 倒装芯片, MCM, bump-on-die

    引线框,引线接合,柔性线路板,连接器

    SMT元件贴装 

    锡膏/环氧数脂胶点

    芯片载体和托盒

    喷墨打印机墨盒

    光纤组件和MEMs

    数据存储

    悬置件

    滑块和悬臂组(HGA)

    磁盘介质基板

    精密注塑和机加工件
    模具和刀具
    医疗设备
    燃料喷射部件
    手表组件

迪合光电科技(上海)有限公司 © 2007-2025 沪ICP备15001632号-1

沪公网安备 31011202002636号

产品商标权属于各生产厂商 产品资料均来自各个厂商官方网站